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發(fā)掘地下寶藏 | XRF 分析儀在貴金屬勘探中的應(yīng)用

更新時間：2025-01-06 點擊次數(shù)：36

隨著全球?qū)F金屬需求的增加，礦業(yè)公司正在尋找更快、更經(jīng)濟的方法來探測和評估這些珍貴資源。繼上期介紹了朗鐸科技為礦業(yè)和礦物加工行業(yè)提供全方位解決方案后，本期我們將深入探討這項便攜技術(shù)如何在貴金屬勘探中實現(xiàn)突破。

場景重現(xiàn)：精準(zhǔn)定位貴金屬

貴金屬，如金、銀和鉑族元素(PGE)，通常在地下深處難以觸及的地方蘊藏。傳統(tǒng)的勘探方法不僅耗時而且成本高昂。

然而，通過使用尼通手持 XRF 分析儀，地質(zhì)學(xué)家現(xiàn)在可以快速識別含有這些貴金屬的區(qū)域，即使是在濃度極低的情況下。

1、應(yīng)用實例

在南非布什維爾德雜巖體，包括梅倫斯基礁和上組2礁（UG2），其中賦存了大量的PGE。這些地層主要由輝石巖、斜長巖和變性橄欖巖組成，典型的PGE品位為3-10 g/t。為了研究手持 XRF 分析儀對PGE勘探的應(yīng)用，沿地層剖面采集了63個樣品。然后由商業(yè)實驗室 (SGS-Lakefield) 使用ICP分析樣品。使用尼通手持 XRF 分析儀對這些樣品進行了兩種形式的分析（直接照射樣品和粉碎樣品-漿料）。

圖1.南非布什維爾德雜巖體中目標(biāo)元素(Pt、Pd和Au)和探途元素(Cu和Ni)的地層分布表明，使用尼通手持 XRF 分析儀進行的Cu和Ni分析可用于定位Pt、Pd 和 Au礦化帶。

2、結(jié)果

通過實驗室分析發(fā)現(xiàn)探途元素Ni和Cu與目標(biāo)貴金屬Pt、Pd和Au具有顯著的正相關(guān)性。這表明Ni和Cu可以有效地用作指示貴金屬位置的探途元素。通過使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀對這些探途元素進行分析，結(jié)果證實了它們能準(zhǔn)確地定位含有高濃度Pt、Pd和Au的地層。

圖2.使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀分析PGE探途元素。

尼通XL3t 手持 XRF 分析儀

產(chǎn)品特點

標(biāo)準(zhǔn)分析范圍：從鎂到鈾的多達30余種元素（根據(jù)應(yīng)用不同而異）。

用于手持 XRF 分析的功能更加強大的X射線管。

一鍵式測定——極易使用，非專業(yè)技術(shù)人員也能很快掌握。

面向?qū)嶋H工業(yè)環(huán)境的耐用型設(shè)計。

提供原位無損的即時分析。

完整密封，防水防塵。

符合人體工程學(xué)設(shè)計。

顯示屏在強日光下仍清晰可讀。

提供多種語言選擇。

彩色觸摸屏顯示器。

本文結(jié)論

隨著金屬價值的增長和礦物品位的降低，手持 XRF 技術(shù)證實了其在提升貴金屬勘探效率和降低成本中的關(guān)鍵作用。使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀能在野外快速精準(zhǔn)定位貴金屬，顯著提高決策速度和精度。

這種實時分析技術(shù)不僅節(jié)省時間和資源，還提升了現(xiàn)場操作的經(jīng)濟效益，為貴金屬勘探提供了一種高效的解決方案。

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